Kính điện Phi Nạp trang bị cho khách hàng mô hình hình ảnh điện tử lần thứ hai, khiến cho việc quan sát hình dáng lập thể của mẫu vật lại tăng lên một bậc thang. Với "đôi mắt" của hai mẫu quan sát - Máy dò tán xạ lưng (BSD) và Máy dò điện tử thứ cấp (SED) - cặp kính này có thể đáp ứng hầu hết các yêu cầu của bạn, bất kể nhu cầu quan sát của bạn là gì.

Chế độ điện tử bậc hai

Bên trong gương quét bàn FENNER có thể được trang bị đầu dò điện tử thứ cấp để thu thập các electron thứ cấp bị bắn phá từ mẫu. Những electron thứ cấp này chủ yếu có nguồn gốc từ bề mặt 1~10nm từ mẫu, do độ sâu tới nhỏ, vùng tác động của electron tới và kích thước của chùm tia tới không khác nhau nhiều, vì vậy trong cùng điều kiện, độ phân giải của electron thứ cấp là tốt hơn so với hình ảnh tán xạ ngược. Hơn nữa, vì các electron thứ cấp nhạy cảm hơn với góc nghiêng của mẫu, hình ảnh điện tử thứ cấp có thể mang lại hình dạng lập thể tốt hơn, như được hiển thị trong hình dưới đây.