Công ty này là cơ quan nghiên cứu công nghệ pha tạp chất bán dẫn thế hệ thứ ba của silicon carbide (SiC) và nghiên cứu, thiết kế, chế tạo, ứng dụng và bán hàng thiết bị của Trung Quốc. Là nhà nghiên cứu dành riêng cho thiết kế cấu trúc chip bán dẫn công suất cao và tăng trưởng mở rộng, MOSFET, thiết kế và ứng dụng chip IGBT, đóng gói và tản nhiệt thiết bị bán dẫn thế hệ thứ ba.

Thetametrisis là một công ty công nghệ cao được phát triển độc lập từ Trung tâm Phát triển Nghiên cứu Khoa học Quốc gia Hy Lạp, công nghệ chính là sử dụng phân tích quang phổ phản xạ quang học để đo chính xác độ dày của các lớp đơn và nhiều lớp và chỉ số khúc xạ, với độ dày từ vài nanomet đến micron.

FR-Scanner (370nm-1020nm) là một thiết bị đo lường loại máy tính để bàn có diện tích nhỏ, thích hợp để đo độ dày lớp phủ ở các vị trí khác nhau được đặt trên wafer tự động. FR-Scanner có thể đo lường nhanh chóng và chính xác các đặc tính của phim, chẳng hạn như độ dày, chỉ số khúc xạ, v.v. Thang máy hút chân không có thể kiểm tra các sản phẩm có kích thước và hình dạng khác nhau.

FR Scanner quét toàn bộ wafer bằng cách quay các tấm wafer và các tấm wafer chuyển động tuyến tính có tốc độ và độ chính xác cao (bán kính và góc), bằng cách này dữ liệu phản xạ chính xác với độ lặp lại cao có thể được ghi lại, làm cho FR Scanner trở thành công cụ lý tưởng cho lớp phủ hoặc lớp phủ trên các tấm wafer lập bản đồ tại dòng và trên dòng.

FR Scanner cung cấp một loạt các cấu hình ứng dụng, mỏng đến vài nanomet và dày đến vài trăm micron và cấu hình phần mềm chuyên dụng để sử dụng hàng ngày. FR Scanner cung cấp hiệu suất tuyệt vời về độ chính xác, độ chính xác, khả năng tái tạo và ổn định lâu dài.